UV- Vis光谱研究Al3+ ,Zn2+ ,Cu2+ 掺杂对TiO2 薄膜光学禁带宽度的影响
作者: 陈云霞,周学东,何鑫编辑:qkzzs发布时间:2007-10-01点击:

陈云霞1,2,周学东2,何鑫2

(1.景德镇陶瓷学院材料科学与工程学院, 333001)

(2.武汉理工大学硅酸盐工程国家教育部重点实验室, 430070)

摘要:通过采用溶胶- 凝胶法制备了稳定的TiO2 溶胶, 在此基础上制备了Al3+ , Zn2+ , Cu2+ 等金属离子氧化物掺杂的复合TiO2 薄膜。采用X 射线衍射、紫外- 可见分光光度计以及NKD- 7000W 薄膜分析系统对所得薄膜晶相组成、光学性质以及禁带宽度等进行了表征。结果表明, 这些金属氧化物与TiO2 的复合薄膜体系中, 形成了单一的锐钛矿相TiO2, 与纯TiO2 薄膜相比, 复合薄膜中TiO2 纳米粒子平均尺寸在一定程度上减小了。同时, 复合TiO2 薄膜的光学透过率以及光学禁带宽度均随着添加量的增加而规律性变化。

关键词:溶胶- 凝胶, TiO2 复合薄膜, 禁带宽度


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