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HfO2薄膜或涂层的制备方法及相应特点

刘少鹏,蔡宏中,魏 燕,祁小红,胡昌义
(昆明贵金属研究所 稀贵金属综合利用新技术国家重点实验室,云南 昆明 650106)

摘 要:HfO2因具有大的介电常数、宽的带隙、低的漏电流、与Si的导带偏移较大且与Si的晶格匹配良好,在半导体工业领域获得了广泛的应用;同时,HfO2有着高的熔点,低的导热系数及蒸发率,优良的热相容、热障及热扩散屏障等性能,是目前高温抗氧化涂层材料最具希望的候选材料。本文简述了HfO2薄膜几种常见的制备方法及相应特点。
关键词:HfO2;薄膜;制备方法;晶体结构;性能

  • DOI: 10.13957/j.cnki.tcxb.2016.03.001

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