张霞1 ，于方丽2 ，王赛3
(盐城工学院材料工程学院，江苏盐城224051)
摘要：采用化学均相沉淀法在YAG:Eu3+ 荧光粉表面包覆了SiO2。利用XRD、SEM、Zeta 电位分析、傅里叶红外光谱和荧光光谱等手段对包覆处理前后的样品进行了测试和表征。结果表明：SiO2包覆层紧密附着在荧光粉表面，而不改变YAG:Eu3+ 荧光粉的晶体结构和发光中心；并通过改善荧光粉的表面状态，在一定程度上提高了荧光粉的发光强度。
关键词：Y3Al5O12:Eu3+；荧光粉；表面包覆；SiO2；发光性能