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铜离子注入(Ba1- xSrx )TiO3半导体陶瓷的交流阻抗特性

王国梅 徐晓虹 吴建锋 杜慧玲

(武汉工业大学材料学院)

勾焕林

(清华大学新型陶瓷与精细工艺国家重点实验室)

摘要:本文测量了铜离子注入(Ba1-xSrx)TiO3半导体陶瓷样品在25~180℃,10Hz~13MHz之间的交流阻抗。根据等效电路模型与阻抗谱的变化,分析了注入样品的晶粒电阻、晶界电阻及其对温度的依从性以及样品的PTCR特性。研究表明,注入剂k为6×10-5ions/cm2时,可以提高材料的PTCR效应。此外,辅以XPS和阻温特性测分析注入铜离子的状态及样品的PTCR特性。

关键词:(Ba, Sr)TiO3半导瓷,离子注入,阻抗谱


  • DOI: 10.13957/j.cnki.tcxb.1997.02.004

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