王芬,朱建锋

（西北轻工业学院‚咸阳：712081）

摘　要:通过对硫硒化镉大红釉面及点的SEM及XRF 分析‚研究了ZrSiO4－Cd（SxSe1－x）在不同基釉中的存在形式与釉色稳定性的关系‚探讨了该色料在高温釉中的呈色机理及稳定条件‚并通过实验及颜色测定获得验证。

关键词:ZrSiO4－Cd（SxSe1－x）‚扫描电镜‚跟踪分析